Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item:
Title: Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходов
Other Titles: Use of atomic force microscope for research p-n-junction
Authors: Циркунова, Н. Г.
Соловьев, Я. А.
Борисенко, В. Е.
Tsirkunova, N. G.
Soloviev, J. A.
Borisenko, V. E.
Keywords: доклады БГУИР
атомно-силовая микроскопия
параметры поверхности
Issue Date: 2010
Publisher: БГУИР
Citation: Циркунова, Н. Г. Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходов / Н. Г. Циркунова, Я. А. Соловьев, В. Е. Борисенко // Доклады БГУИР. - 2010. - № 4 (50). - С. 37 - 42.
Abstract: Показана возможность использования различных методик атомно-силовой микроскопии для исследования p-n-переходов. Показано влияние амплитуды колебания зонда на разрешение метода фазового контраста при получении изображения, а также влияние обработки на структуру и свойства поверхности p-n-переходов.The possibility to use different methods for identification and analysis of p-n-junctions with atomic force microscopy is shown. Vibration amplitude of the probe and surface treatments has been observed to influence the resolution of the phase contrast method.
Appears in Collections:№4 (50)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tsirkunova_Use.PDF658,17 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.