Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходов

Циркунова, Н. Г.; Соловьев, Я. А.; Борисенко, В. Е.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34999

Title:	Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходов
Other Titles:	Use of atomic force microscope for research p-n-junction
Authors:	Циркунова, Н. Г. Соловьев, Я. А. Борисенко, В. Е.
Keywords:	доклады БГУИР;атомно-силовая микроскопия;p-n-переход;параметры поверхности
Issue Date:	2010
Publisher:	БГУИР
Citation:	Циркунова, Н. Г. Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходов = Use of atomic force microscope for research p-n-junction / Н. Г. Циркунова, Я. А. Соловьев, В. Е. Борисенко // Доклады БГУИР. – 2010. – № 4 (50). – С. 37–42.
Abstract:	Показана возможность использования различных методик атомно-силовой микроскопии для исследования p-n-переходов. Показано влияние амплитуды колебания зонда на разрешение метода фазового контраста при получении изображения, а также влияние обработки на структуру и свойства поверхности p-n-переходов.
Alternative abstract:	The possibility to use different methods for identification and analysis of p-n-junctions with atomic force microscopy is shown. Vibration amplitude of the probe and surface treatments has been observed to influence the resolution of the phase contrast method.
URI:	https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34999
Appears in Collections:	№4 (50)

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Tsirkunova_Use.PDF		658.17 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar