https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36594| Title: | Оценка метода тока затвора и анализ закономерностей процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов |
| Authors: | Бондарев, А. А. Загорский, А. В. |
| Keywords: | материалы конференций;р-МОП-транзисторы;МОП-транзисторы |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Бондарев, А. А. Оценка метода тока затвора и анализ закономерностей процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов / Бондарев А. А., Загорский А. В. // Электронные системы и технологии: 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г.: сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 59. |
| Abstract: | Ухудшение параметров р-МОП-транзисторов, вызванное «горячими» носителями, является важной проблемой надежности в современных схемах. Для определения изменения рабочих характеристик обычно контролируются такие параметры как пороговое напряжение, крутизна передаточной характеристики и рабочие токи. В этой статье рассмотрен метод тока затвора проведения ускоренных испытаний на деградацию параметров и проанализированы закономерности процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36594 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Bondarev_Otsenka.pdf | 515.63 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.