| Title: | Методика исследования малых изменений структуры теплового сопротивления мощных ДМОП транзисторов |
| Authors: | Горчанин, Д. И. |
| Keywords: | материалы конференций;тепловая релаксационная дифференциальная спектрометрия;ДМОП транзисторы |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Горчанин, Д. И. Методика исследования малых изменений структуры теплового сопротивления мощных ДМОП транзисторов / Горчанин Д. И. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 93 – 94. |
| Abstract: | Методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии (ТРДС), были исследованы профили растекания
теплового потока и структура внутреннего теплового сопротивления экспериментальных мощных ДМОП транзисторов
КП7209, КП723, изготовленных при различных температурных режимах и методах посадки кристалла. Для оценки
надежности транзисторов проводились испытания на длительное воздействие термоударом в интервале температур от –
196 до +200°С с контролем тепловых параметров через каждые 100 термоударов. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36729 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
