| Title: | Методы исследования интегральных микросхем |
| Authors: | Коротыш, И. Г. |
| Keywords: | материалы конференций;компьютерная микротомография;интегральные микросхемы |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Коротыш, И. Г. Методы исследования интегральных микросхем / Коротыш И. Г. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 157 – 158 |
| Abstract: | Современный мир трудно представить без электронных устройств, в основе которых
находятся интегральные микросхемы, от качества и работы которых зависит работоспособность,
надёжность, энергопотребление, тепловыделение и другие характеристики устройств. Для того
чтобы обеспечить высокую степень безотказности ИМС необходимо проводить соответствующий
контроль качества, а также проводить анализ и поиски причин отказа микросхем для
посредствующих улучшений и исправлений технологического процесса их изготовления. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36873 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
