https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36894| Title: | Оборудование для проведения тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур |
| Authors: | Кукшинский, Н. И. Бируков, Е. А. |
| Keywords: | материалы конференций;тестирование интегральных микросхем;полупроводниковые приборы |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Кукшинский, Н. И. Оборудование для проведения тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур / Кукшинский Н. И., Бируков Е. А. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 163. |
| Abstract: | В статье рассматривается оборудование для тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур, приводятся их основные технические характеристики. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36894 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Kukshinskiy_Oborudovaniye.pdf | 485.91 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.