Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36912
Title: Физические причины временных отказов микропроцессорных устройств
Authors: Майоров, Л. В.
Keywords: материалы конференций;микропроцессорные устройства;ионизирующее излучение
Issue Date: 2019
Publisher: БГУИР
Citation: Майоров, Л. В. Физические причины временных отказов микропроцессорных устройств / Майоров Л. В. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 169.
Abstract: Основными физическими причинами, обуславливающими появление временных отказов микропроцессорных устройств, являются электромагнитные помехи и воздействие ионизирующего излучения на полупроводниковые структуры. Анализ среды, в которой функционирует микропроцессорное устройство, и влияния её факторов позволят оценить вероятность возникновения временного отказа.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36912
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Mayorov_Fizicheskiye.pdf504.11 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.