| Title: | Физические причины временных отказов микропроцессорных устройств |
| Authors: | Майоров, Л. В. |
| Keywords: | материалы конференций;микропроцессорные устройства;ионизирующее излучение |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Майоров, Л. В. Физические причины временных отказов микропроцессорных устройств / Л. В. Майоров // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 169. |
| Abstract: | Основными физическими причинами, обуславливающими появление временных отказов микропроцессорных устройств, являются электромагнитные помехи и воздействие ионизирующего излучения на полупроводниковые структуры. Анализ среды, в которой функционирует микропроцессорное устройство, и влияния её факторов позволят оценить вероятность возникновения временного отказа. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36912 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
