Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/370
Title: Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: метод. указания и контрольные задания для студентов специальности 41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. и дистанц. форм обучения
Authors: Колосницын, Б. С.
Короткевич, А. В.
Keywords: учебно-методические пособия;интегральные микросхемы;полупроводниковые приборы
Issue Date: 2005
Publisher: БГУИР
Citation: Колосницын, Б. С. Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: метод. указания и контрольные задания для студентов специальности 41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. и дистанц. форм обучения / Б. С. Колосницын, А. В. Короткевич. – Минск : БГУИР, 2005. – 20 с.
Abstract: Курс «Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем» включает десять тем. К каждой теме прилагаются основная и дополнительная литература, подробные методические указания и вопросы для самопроверки. Приведены задачи и вопросы, входящие в индивидуальное контрольное задание.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/370
ISBN: 985-444-773-1.
Appears in Collections:Кафедра микро- и наноэлектроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kolosnicin_ispit.pdf589.36 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.