https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/370| Title: | Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: метод. указания и контрольные задания для студентов специальности 41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. и дистанц. форм обучения |
| Authors: | Колосницын, Б. С. Короткевич, А. В. |
| Keywords: | учебно-методические пособия;интегральные микросхемы;полупроводниковые приборы |
| Issue Date: | 2005 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Колосницын, Б. С. Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: метод. указания и контрольные задания для студентов специальности 41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. и дистанц. форм обучения / Б. С. Колосницын, А. В. Короткевич. – Минск : БГУИР, 2005. – 20 с. |
| Abstract: | Курс «Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем» включает десять тем. К каждой теме прилагаются основная и дополнительная литература, подробные методические указания и вопросы для самопроверки. Приведены задачи и вопросы, входящие в индивидуальное контрольное задание. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/370 |
| ISBN: | 985-444-773-1 |
| Appears in Collections: | Кафедра микро- и наноэлектроники |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Kolosnicin_ispit.pdf | 589.36 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.