Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/373
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКолосницын, Б. С.-
dc.contributor.authorСтешенко, П. П.-
dc.contributor.authorУткина, Е. А.-
dc.date.accessioned2014-07-10T13:25:58Z-
dc.date.available2014-07-10T13:25:58Z-
dc.date.issued2007-
dc.identifier.citationКолосницын, Б. С. Надежность и контроль качества интегральных схем : лаборатор. практикум для студентов специальности I-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» для днев. и заоч. форм обучения / Б. С. Колосницын, П. П. Стешенко, Е. А. Уткина. - Минск : БГУИР, 2007. - 42 с.ru_RU
dc.identifier.isbn978-985-444-870-1.-
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/373-
dc.description.abstractВ лабораторном практикуме рассмотрены основные понятия теории надежности ИМС и статистической обработки результатов измерений параметров биполярных транзисторов. Предназначено для студентов специальности «Микро- и наноэлектронные технологии и системы».ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectучебно-методические пособияru_RU
dc.subjectбиполярные транзисторыru_RU
dc.subjectинтегральные схемыru_RU
dc.subjectконтроль схемru_RU
dc.subjectлабораторные работыru_RU
dc.titleНадежность и контроль качества интегральных схем : лаборатор. практикум для студентов специальности I-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» для днев. и заоч. форм обученияru_RU
dc.typeBookru_RU
Appears in Collections:Кафедра микро- и наноэлектроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kolosnicin_nadej.pdf938.93 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.