| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Колосницын, Б. С. | - |
| dc.contributor.author | Стешенко, П. П. | - |
| dc.contributor.author | Уткина, Е. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-07-10T13:25:58Z | - |
| dc.date.available | 2014-07-10T13:25:58Z | - |
| dc.date.issued | 2007 | - |
| dc.identifier.citation | Колосницын, Б. С. Надежность и контроль качества интегральных схем : лаборатор. практикум для студентов специальности I-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» для днев. и заоч. форм обучения / Б. С. Колосницын, П. П. Стешенко, Е. А. Уткина. - Минск : БГУИР, 2007. - 42 с. | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-985-444-870-1. | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/373 | - |
| dc.description.abstract | В лабораторном практикуме рассмотрены основные понятия теории надежности ИМС и статистической обработки результатов измерений параметров биполярных транзисторов.
Предназначено для студентов специальности «Микро- и наноэлектронные технологии и системы». | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | учебно-методические пособия | ru_RU |
| dc.subject | биполярные транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | интегральные схемы | ru_RU |
| dc.subject | контроль схем | ru_RU |
| dc.subject | лабораторные работы | ru_RU |
| dc.title | Надежность и контроль качества интегральных схем : лаборатор. практикум для студентов специальности I-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» для днев. и заоч. форм обучения | ru_RU |
| dc.type | Book | ru_RU |
| Appears in Collections: | Кафедра микро- и наноэлектроники
|
