https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/373| Title: | Надежность и контроль качества интегральных схем : лаборатор. практикум для студентов специальности I-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» для днев. и заоч. форм обучения |
| Authors: | Колосницын, Б. С. Стешенко, П. П. Уткина, Е. А. |
| Keywords: | учебно-методические пособия;биполярные транзисторы;интегральные схемы;контроль схем;лабораторные работы |
| Issue Date: | 2007 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Колосницын, Б. С. Надежность и контроль качества интегральных схем : лаборатор. практикум для студентов специальности I-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» для днев. и заоч. форм обучения / Б. С. Колосницын, П. П. Стешенко, Е. А. Уткина. - Минск : БГУИР, 2007. - 42 с. |
| Abstract: | В лабораторном практикуме рассмотрены основные понятия теории надежности ИМС и статистической обработки результатов измерений параметров биполярных транзисторов. Предназначено для студентов специальности «Микро- и наноэлектронные технологии и системы». |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/373 |
| ISBN: | 978-985-444-870-1. |
| Appears in Collections: | Кафедра микро- и наноэлектроники |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Kolosnicin_nadej.pdf | 938.93 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.