Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/373
Title: Надежность и контроль качества интегральных схем : лаборатор. практикум для студентов специальности I-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» для днев. и заоч. форм обучения
Authors: Колосницын, Б. С.
Стешенко, П. П.
Уткина, Е. А.
Keywords: учебно-методические пособия;биполярные транзисторы;интегральные схемы;контроль схем;лабораторные работы
Issue Date: 2007
Publisher: БГУИР
Citation: Колосницын, Б. С. Надежность и контроль качества интегральных схем : лаборатор. практикум для студентов специальности I-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» для днев. и заоч. форм обучения / Б. С. Колосницын, П. П. Стешенко, Е. А. Уткина. - Минск : БГУИР, 2007. - 42 с.
Abstract: В лабораторном практикуме рассмотрены основные понятия теории надежности ИМС и статистической обработки результатов измерений параметров биполярных транзисторов. Предназначено для студентов специальности «Микро- и наноэлектронные технологии и системы».
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/373
ISBN: 978-985-444-870-1.
Appears in Collections:Кафедра микро- и наноэлектроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kolosnicin_nadej.pdf938.93 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.