https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38422| Title: | Механизмы повреждений полупроводниковых структур, вызванные воздействием ЭМИ |
| Authors: | Константинов, А. А. Панасюк, Н. А. Яненко, Н. В. |
| Keywords: | публикации ученых;электростатический разряд;тепловой вторичный пробой |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | РГРТУ имени В.Ф. Уткина |
| Citation: | Константинов, А. А. Механизмы повреждений полупроводниковых структур, вызванные воздействием ЭМИ / А. А. Константинов, Н. А. Панасюк, Н. В. Яненко // Новые информационные технологии в научных исследованиях (НИТ-2019): материалы XХIV Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 13 - 15 ноября 2019 г: в 2 т. / Министерство образования и науки РФ; Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина. – Рязань, 2019. – Т. 2. – С. 97 – 100. |
| Abstract: | В результате анализа работ [1–10] выявлено существование пяти наиболее распространенных и связанных с электростатическим разрядом (ЭСР) механизмов отказов: тепловой вторичный пробой, расплавление металлизации, явления перегрева и пробоя, а также разрыв окисного слоя. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38422 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Konstantinov_Mekhanizmy.pdf | 286.78 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.