Please use this identifier to cite or link to this item:
https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38507
| Title: | Оценка эффективности функционирования микропроцессорных устройств с учётом их временных отказов |
| Authors: | Майоров, Л. В. |
| Keywords: | публикации ученых;временный отказ;микропроцессорное устройство |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | РГРТУ имени В.Ф. Уткина |
| Citation: | Майоров, Л. В. Оценка эффективности функционирования микропроцессорных устройств с учётом их временных отказов / Л. В. Майоров // Новые информационные технологии в научных исследованиях (НИТ-2019) : материалы XХIV Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 13-15 ноября 2019 г. : в 2 т. Т. 2 / Рязанский государственный радиотехнический университет имени В. Ф. Уткина. – Рязань, 2019. – С. 15–16. |
| Abstract: | Временный отказ (сбой) – это самоустраняющийся отказ или однократный отказ, устраняемый незначительным вмешательством оператора. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38507 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
