Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/39592
Title: Влияние конструкции корпуса микросхем на их восприимчивость к воздействию электромагнитных полей
Authors: Титович, Н. А.
Теслюк, В. Н.
Keywords: материалы конференций;конструкция корпуса микросхем;электромагнитные поля
Issue Date: 2020
Publisher: БГУИР
Citation: Титович, Н. А. Влияние конструкции корпуса микросхем на их восприимчивость к воздействию электромагнитных полей / Н. А. Титович, В. Н. Теслюк // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 9 июня 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол.: Т. В. Борботько [и др.]. – Минск, 2020. – С. 76–77.
Abstract: Перед разработчиками специальных радиоэлектронных систем нередко стоит задача обеспечения их надежной работы при уровнях напряженности электромагнитных полей до 20 и более кВ/м. При проектировании бортовой аппаратуры вопросы защиты от помех целесообразно рассматривать на этапе выбора элементной базы, а традиционные экраны во избежание увеличения габаритов и веса используются только для защиты наиболее уязвимых мест устройства.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/39592
ISBN: 978-985-543-513-7
Appears in Collections:ТСЗИ 2020

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Titovich_Vliyaniye.pdf216.1 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.