Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/39822
Title: Особенности проведения измерений оптических покрытий методом абсорбционной спектроскопии
Authors: Кисель, Д. С.
Keywords: материалы конференций;оптические покрытия;спектрофотометры;спектрофотометрия;спектроскопия;абсорбционная спектроскопия
Issue Date: 2020
Publisher: БГУИР
Citation: Кисель, Д. С. Особенности проведения измерений оптических покрытий методом абсорбционной спектроскопии / Кисель Д. С. // Радиотехника и электроника : сборник тезисов докладов 56-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, апрель-май 2020 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - Минск : БГУИР, 2020. - С. 17-18
Abstract: Проведены измерения оптических покрытий на примере просветляющего покрытия и многослойного диэлектрического зеркала на спектрофотометре МС 122. Описана оптическая система спектрофотометра МС 122. Представлены спектральные характеристики оптических покрытий.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/39822
Appears in Collections:Радиотехника и электроника : материалы 56-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2020)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kisel_Osobennosti.pdf503.3 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.