Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41209
Title: Программное средство для прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов по модели деградации электрического параметра
Authors: Терешкова, А. С.
Горбач, В. Р.
Жданович, В. П.
Keywords: материалы конференций;прогнозирование надёжности;полупроводниковый прибор
Issue Date: 2020
Publisher: БГУИР, РБ
Citation: Терешкова, А. С. Программное средство для прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов по модели деградации электрического параметра / А. С. Терешкова, В. Р. Горбач, В. П. Жданович // Электронные системы и технологии : сборник тезисов докладов 56-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18–20 мая 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2020. – С. 512–513.
Abstract: Авторы предлагают программное средство, позволяющее в интерактивном режиме взаимодействовать с пользователем, получать оптимальную модель деградации электрического параметра выборки полупроводниковых приборов. Модель представляет собой математическое выражение условного (для заданной наработки) закона распределения электрического параметра. В качестве критерия оптимальности используется минимальное значение средней ошибки прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41209
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 56-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2020)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tereshkova_Programmnoye.pdf543.11 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.