| Title: | Поиск информативных параметров для прогнозирования индивидуальной надёжности транзисторов большой мощности и отбора высоконадёжных экземпляров |
| Authors: | Казючиц, В. О. |
| Keywords: | материалы конференций;индивидуальное прогнозирование;надёжность радиоэлектронных изделий |
| Issue Date: | 2020 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Казючиц, В. О. Поиск информативных параметров для прогнозирования индивидуальной надёжности транзисторов большой мощности и отбора высоконадёжных экземпляров / Казючиц В. О. // Информационные радиосистемы и радиотехнологии 2020 : материалы Республиканской научно-практической конференции, Минск, 28-29 октября 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. А. Богуш [и др.]. – Минск : БГУИР, 2020. – С. 320-322. |
| Abstract: | Описывается применение метода индивидуального прогнозирования надёжности радиоэлектронных изделий по информативным параметрам, а также приводятся основные этапы ускоренных испытаний полупроводниковых приборов на надёжность. |
| Alternative abstract: | A method of individual forecasting of the reliability of radio-electronic products by informative parameters is described, and the main stages of accelerated testing of semiconductor devices for reliability are given. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41987 |
| Appears in Collections: | Информационные радиосистемы и радиотехнологии 2020 : Республиканская научно-практическая конференция
|
