https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42072| Title: | Сравнение влияния температуры на безотказность конденсаторов и кремниевых транзисторов |
| Authors: | Лапшин, С. М. Пылик, Е. И. Середенко, Р. С. Таболич, Т. Г. |
| Keywords: | материалы конференций;кремниевые транзисторы;транзисторы;конденсаторы |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Сравнение влияния температуры на безотказность конденсаторов и кремниевых транзисторов / Лапшин С. М. [и др.] // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно-технической конференции, Браслав, 24–28 мая 2010 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2010. – С. 97. |
| Abstract: | Исследование влияния температуры на надёжность электрорадиоэлементов с помощью построения линий Аррениуса, начатое для кремниевых транзисторов, было продолжено для конденсаторов. В среде MathCAD были построены линии Аррениуса для деградационных процессов, вызывающих отказы электролитических, бумажных, керамических, слюдяных, плёночных и других конденсаторов. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42072 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2010 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Lapshin_Sravneniye.pdf | 86.82 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.