Please use this identifier to cite or link to this item:
https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42098
| Title: | Повышение надежности корпуса полупроводникового прибора |
| Authors: | Осипов, А. А. |
| Keywords: | материалы конференций;полупроводниковые приборы;акустические шумы;надежность |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Осипов, А. А. Повышение надежности корпуса полупроводникового прибора / Осипов А. А. // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно-технической конференции, Браслав, 24–28 мая 2010 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2010. – С. 86. |
| Abstract: | При работе полупроводникового прибора в экстремальных условиях важнейшей задачей является обеспечение устойчивости корпуса полупроводникового прибора к внешнему воздействию. Устойчивость корпуса полупроводникового прибора к воздействию акустического шума определяется способностью элементов конструкции противостоять разрушению вследствие воздействия внешней силы, равномерно распределенной по поверхности, обращенной к источнику звукового давления. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42098 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2010
|
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
