https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42455| Title: | Методы исследования влияния ВЧ и СВЧ помех на работу микросхем |
| Authors: | Титович, Н. А. Ледник, А. М. Мурашкина, З. Н. |
| Keywords: | материалы конференций;интегральные микросхемы;высокочастотные помехи;сверхвысокочастотные помехи;электромагнитные помехи |
| Issue Date: | 2011 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Титович, Н. А. Методы исследования влияния ВЧ и СВЧ помех на работу микросхем / Н. А. Титович, А. М. Ледник, З. Н. Мурашкина // Технические средства защиты информации : тезисы докладов IХ Белорусско-российской научно-технической конференции, Минск, 28–29 июня 2011 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2011. – С. 83. |
| Abstract: | Уровни наводимых на сигнальных проводах, шинах питания и заземления радиоэлектронных устройств ВЧ и СВЧ помех даже в случае ослабления их на 80–100 дБ могут вызвать не только обратимые сбои в работе интегральных микросхем (ИМС), но и привести к деградационным изменениям в их структуре. При оценке влияния электромагнитных помех (ЭМП) для имитации воздействия часто используется метод излучения, в котором помеховый сигнал поступает к антенне, излучающей его в направлении исследуемого объекта, расположенного перед облучателем. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42455 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2011 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Titovich_Metody.pdf | 138.42 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.