Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 201 to 220 of 406
| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2019 | Взаимосвязь сэмплинга и длительности рендера в Arnold | Михнюк, Н. И. |
| 2019 | Выбор метода проектирования технологических процессов | Мельник, М. А. |
| 2019 | Анализ программных средств и методики проектирования технологических процессов | Мельник, М. А. |
| 2019 | Робот R42D2 с примитивной системой автопилотирования | Новогран, В. И.; Жданок, Л. Д.; Дребезов, Д. И.; Зимин, Н. И.; Анищенко, М. А. |
| 2019 | Физические причины временных отказов микропроцессорных устройств | Майоров, Л. В. |
| 2019 | Программное средство предпросмотра настроек доступа с модулем обмена данными для ERP системы Microsoft Dynamics 365 | Нестеренко, В. Н.; Манин, А. С. |
| 2019 | Моделирование процессов разработки и управления программными проектами | Малиновская, В. В. |
| 2019 | Тепловое расширение монокристаллов CuIn7Se11 | Макуца, М. О. |
| 2019 | Преимущества и недостатки архитектуры MVP при разработке Android-приложения | Макаревич, В. А. |
| 2019 | Общие сведения и определение системы мониторинга | Лукашеня, И. В. |
| 2019 | Методы сегментации изображений | Лойко, Е. И.; Пятлин, В. С.; Цвирко, В. Ю. |
| 2019 | Влияние фильмов 3D-формата на здоровье человека | Нестерчик, Р. И. |
| 2019 | Автоматизация тестирования web-приложений как часть процесса Continius Integration | Лось, Н. А.; Ярошенко, А. Л. |
| 2019 | Химическое загрязнение атмосферы города Бобруйска | Науменко, Д. К.; Кожемякин, П. Н. |
| 2019 | Классификация моделей надёжности прикладного программного обеспечения | Лэ, В. Т.; Дик, С. С. |
| 2019 | Повышение эргономичности, функциональности и надежности информационно-поисковой системы туристического агентства | Нагорный, В. В. |
| 2019 | Анализ причин эмоционального выгорания специалистов IT-сферы | Муртазин, Д. Ю. |
| 2019 | Веб-приложение алгоритмов производственных процессов | Мукамолов, А. А. |
| 2019 | Автоматизация создания индивидуальны имплантов костей глазницы | Мороз, П. А. |
| 2019 | Оборудование для проведения тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур | Кукшинский, Н. И.; Бируков, Е. А. |
Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 201 to 220 of 406
