Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48248
Title: Подходы к тестированию запоминающих устройств
Authors: Деменковец, Д. В.
Петровская, В. В.
Keywords: материалы конференций;запоминающие устройства;вычислительные системы;тестирование
Issue Date: 2022
Publisher: БГУИР
Citation: Деменковец, Д. В. Подходы к тестированию запоминающих устройств / Деменковец Д. В., Петровская В. В. // Компьютерные системы и сети : сборник статей 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 18–22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2022. – С. 121–123.
Abstract: Тезис посвящен подходам к тестированию запоминающих устройств. В тексте рассмотрены основные модели неисправностей, примеры традиционных методов тестирования и маршевые тесты. Особое внимание уделено теме многократного неразрушающего тестирования. В работе приведены достоинства и недостатки исчерпывающего тестирования.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48248
Appears in Collections:Компьютерные системы и сети : материалы 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2022)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Demenkovets_Podkhody.pdf444.95 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.