https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48248| Title: | Подходы к тестированию запоминающих устройств |
| Authors: | Деменковец, Д. В. Петровская, В. В. |
| Keywords: | материалы конференций;запоминающие устройства;вычислительные системы;тестирование |
| Issue Date: | 2022 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Деменковец, Д. В. Подходы к тестированию запоминающих устройств / Деменковец Д. В., Петровская В. В. // Компьютерные системы и сети : сборник статей 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 18–22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2022. – С. 121–123. |
| Abstract: | Тезис посвящен подходам к тестированию запоминающих устройств. В тексте рассмотрены основные модели неисправностей, примеры традиционных методов тестирования и маршевые тесты. Особое внимание уделено теме многократного неразрушающего тестирования. В работе приведены достоинства и недостатки исчерпывающего тестирования. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48248 |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2022) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Demenkovets_Podkhody.pdf | 444.95 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.