https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50930| Title: | Тестовая ячейка для контроля качества МДП-БИС |
| Other Titles: | А. с. 1267303 СССР |
| Authors: | Суходольский, А. М. Дробыш, П. П. Власенко, В. Н. Притуляк, П. В. |
| Keywords: | патенты;интегральные схемы;мдп-транзисторы;устройства контроля |
| Issue Date: | 1986 |
| Publisher: | Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий |
| Citation: | Тестовая ячейка для контроля качества МДП-БИС : а. с. 1267303 СССР : МПК G 01 R 31/28 / А. М. Суходольский, П. П. Дробыш, В. Н. Власенко, П. В. Притуляк ; заявитель и патентообладатель Минский радиотехнический институт. – № 3862840/24-21 ; заявл. 21.01.1985 ; опубл. 30.10.1986 – 4 с. : ил. |
| Abstract: | Изобретение относится к производству больших интегральных схем на МДП-транзисторах (МДП-БИС). Может быть использовано для их контроля и управления технологическими процессами изготовления. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50930 |
| Appears in Collections: | Изобретения |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Pat_1267303.pdf | 260.32 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.