Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/516
Title: Повышение надежности транзисторов в металлокерамических микрокорпусах
Authors: Турцевич, А. С.
Волкенштейн, С. С.
Керенцев, А. Ф.
Хмыль, А. А.
Keywords: транзистор;металлокерамический корпус;материалы конференций
Issue Date: 2014
Publisher: БГУИР
Citation: Повышение надежности транзисторов в металлокерамических микрокорпусах / А. С. Турцевич, С. С. Волкен6штейн, А. Ф. Керенцев, А. А. Хмыль // Международная научно-техническая конференция, приуроченная к 50-летию МРТИ–БГУИР : материалы конференции, Минск, 18–19 марта 2014 г. : в 2 ч. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: А. Н. Осипов [и др.]. – Минск, 2014. – Ч. 2. – C. 65–66.
Abstract: Миниатюризация компонентов электронной техники и микроэлектроники приводит к необходимости ужесточения мониторинга технологического процесса герметизации сваркой.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/516
ISBN: 978-985-543-038-5
Appears in Collections:Секция «Микро- и наноэлектроника»

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
повышение.pdf451.4 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.