https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/53952
Title: | Формальная модель описания и условия обнаружения связных неисправностей взаимного влияния запоминающих устройств |
Other Titles: | Formal description model and conditions for detecting linked coupling faults of the memory devices |
Authors: | Ярмолик, В. Н. Деменковец, Д. В. Петровская, В. В. Иванюк, А. А. |
Keywords: | публикации ученых;вычислительные системы;маршевые тесты;адресная последовательность |
Issue Date: | 2023 |
Publisher: | Объединенный институт проблем информатики Национальной академии наук Беларуси |
Citation: | Формальная модель описания и условия обнаружения связных неисправностей взаимного влияния запоминающих устройств = Formal description model and conditions for detecting linked coupling faults of the memory devices / В. Н. Ярмолик [и др.] // Информатика. – 2023. – № 4 (20). – С. 7–23. |
Abstract: | Целью работы являются разработка и анализ формальной модели описания сложных связных неисправностей взаимного влияния запоминающих устройств и формулировка необходимых и достаточных условий их обнаружения. Актуальность данных исследований заключается в том, что современные запоминающие устройства, характеризующиеся большим объемом хранимых данных и изготовленные по новейшим технологическим нормам, отличаются проявлением в них сложных разновидностей неисправностей. Результаты исследования основаны на классической теории и практике однократных маршевых тестов (March tests) запоминающих устройств. В частности, в работе используются формальные математические модели описания неисправностей памяти и показывается их ограниченность для представления связных неисправностей взаимного влияния. Главная идея предлагаемого авторами подхода заключается в применении нового формального описания подобных неисправностей, ключевым элементом которого является использование ролей, выполняемых ячейками запоминающего устройства, участвующими в неисправности. Определены три основные роли, которые выполняют ячейки связной неисправности взаимного влияния, а именно: роль агрессора (A), роль жертвы (V), а также роль, включающая роли жертвы и агрессора (B), выполняемые двумя ячейками одновременно по отношению друг к другу. Показано, что сценарий реализации ролей ячеек неисправности памяти определяется применяемым маршевым тестом и в первую очередь используемой им адресной последовательностью обращения к ячейкам. Приведена процедура построения формальной модели связной неисправности, основу которой составляют роли, выполняемые ячейками, входящими в неисправность, и сценарий, задаваемый тестом. На базе нового формального описания связных неисправностей взаимного влияния сформулировано утверждение, определяющее необходимые и достаточные условия обнаружения подобных неисправностей. Показывается наличие необнаруживаемых неисправностей взаимного влияния и определяется возможность их обнаружения в рамках многократных маршевых тестов. Проведенные экспериментальные исследования подтвердили справедливость сформулированных положений статьи. На базе классического примера связной неисправности взаимного влияния показано выполнение необходимых и достаточных условий ее обнаружения однократным маршевым тестом. Результаты исследований подтверждают, что предложенная формальная математическая модель описания связных неисправностей взаимного влияния позволяет идентифицировать их покрытие маршевыми тестами. В рамках предложенной модели определяются необходимые и достаточные условия обнаружения связных неисправностей взаимного влияния маршевыми тестами, покрывающими одиночные связные неисправности. |
Alternative abstract: | The aim of the work is to develop and analyze a formal model for describing complex linked coupling faults of memory devices and to formulate the necessary and sufficient conditions for their detection. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/53952 |
DOI: | https://doi.org/10.37661/1816-0301-2023-20-4-7-23 |
Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
YArmolik_Formal'naya.pdf | 7.75 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.