https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/53977| Title: | Оптимальное сочетание показателей надежности и режимов ИЭТ при проектировании электронных систем |
| Authors: | Пономарёв, И. С. Свиржевский, И. В. Крень, М. А. |
| Keywords: | публикации ученых;электронные системы;информационные технологии;электронная техника |
| Issue Date: | 2023 |
| Publisher: | Рязанский государственный радиотехнический университет имени В. Ф. Уткина |
| Citation: | Пономарёв, И. С. Оптимальное сочетание показателей надежности и режимов ИЭТ при проектировании электронных систем / И. С. Пономарёв, И. В. Свиржевский, М. А. Крень // Новые информационные технологии в научных исследованиях «НИТ-2023» : материалы XХVIII Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 22–24 ноября, 2023 г. : в 2 т. Т 2 / Рязанский государственный радиотехнический университет имени В. Ф. Уткина. – Рязань, 2023. – С. 116–119. |
| Abstract: | Проведен анализ проблем, возникающих в процессе создания сложных электронных систем. Рассмотрены нормативные документы используемые в процессе проектирования электронных систем. Выделены нерешенные на сегодняшний день проблемы проектирования сложных электронных систем. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/53977 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Ponomarev_Optimal'noe.pdf | 140.06 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.