| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Орлов, К. И. | - |
| dc.contributor.author | Костюкевич, А. Ю. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2024-08-30T07:23:45Z | - |
| dc.date.available | 2024-08-30T07:23:45Z | - |
| dc.date.issued | 2024 | - |
| dc.identifier.citation | Орлов, К. И. Рентгеновские методы анализа материалов / К. И. Орлов, А. Ю. Костюкевич // Компьютерные системы и сети : сборник статей 60-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2024 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2024. – С. 264–266. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/57172 | - |
| dc.description.abstract | Рентгеновские методы анализа материалов являются мощным инструментом для неразрушающего и точного исследования структуры и свойств материалов. В данной работе представлен обзор основных рентгеновских методов, включая дифракцию рентгеновского излучения, флуоресценцию и рентгеновскую спектроскопию. Рассмотрены принципы и области применения данных методов, включая определение кристаллической структуры, химического состава, напряжений, толщины пленок и дефектов в материалах. Обсуждаются преимущества и ограничения рентгеновских методов, а также перспективы их применения в различных областях материаловедения и научных исследований. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | рентгеновские методы | en_US |
| dc.subject | флуоресценция | en_US |
| dc.subject | рентгеновская спектроскопия | en_US |
| dc.title | Рентгеновские методы анализа материалов | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | X-ray methods for material analysis are powerful tools for non-destructive and precise examination of the structure and properties
of materials. This paper provides an overview of the main X-ray methods, including X-ray diffraction, fluorescence, and X-ray spectroscopy. The principles and areas of application of these methods are discussed, including the determination of crystalline structure, chemical composition, stresses, film thickness, and defects in materials. The advantages and limitations of X-ray methods are addressed, as well as the prospects for their application in various fields of materials science and scientific research. | en_US |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 60-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2024)
|
