Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/57172
Title: Рентгеновские методы анализа материалов
Authors: Орлов, К. И.
Костюкевич, А. Ю.
Keywords: материалы конференций;рентгеновские методы;флуоресценция;рентгеновская спектроскопия
Issue Date: 2024
Publisher: БГУИР
Citation: Орлов, К. И. Рентгеновские методы анализа материалов / К. И. Орлов, А. Ю. Костюкевич // Компьютерные системы и сети : сборник статей 60-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2024 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2024. – С. 264–266.
Abstract: Рентгеновские методы анализа материалов являются мощным инструментом для неразрушающего и точного исследования структуры и свойств материалов. В данной работе представлен обзор основных рентгеновских методов, включая дифракцию рентгеновского излучения, флуоресценцию и рентгеновскую спектроскопию. Рассмотрены принципы и области применения данных методов, включая определение кристаллической структуры, химического состава, напряжений, толщины пленок и дефектов в материалах. Обсуждаются преимущества и ограничения рентгеновских методов, а также перспективы их применения в различных областях материаловедения и научных исследований.
Alternative abstract: X-ray methods for material analysis are powerful tools for non-destructive and precise examination of the structure and properties of materials. This paper provides an overview of the main X-ray methods, including X-ray diffraction, fluorescence, and X-ray spectroscopy. The principles and areas of application of these methods are discussed, including the determination of crystalline structure, chemical composition, stresses, film thickness, and defects in materials. The advantages and limitations of X-ray methods are addressed, as well as the prospects for their application in various fields of materials science and scientific research.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/57172
Appears in Collections:Компьютерные системы и сети : материалы 60-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2024)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Orlov_Rentgenovskie.pdf279.81 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.