Верификация методики определения параметров компактной модели GaAs гетеропереходных биполярных транзисторов

Новиков, П. Э.; Кратович, П. С.; Корсак, К. В.; Ловшенко, И. Ю.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/58815

Title:	Верификация методики определения параметров компактной модели GaAs гетеропереходных биполярных транзисторов
Other Titles:	Verification of a methodology for determining the parameters of a compact model for GaAs heterojunction bipolar transistors
Authors:	Новиков, П. Э. Кратович, П. С. Корсак, К. В. Ловшенко, И. Ю.
Keywords:	материалы конференций;приборное моделирование;биполярные транзисторы с гетеропереходом;верификация;GaAs
Issue Date:	2024
Publisher:	БГУИР
Citation:	Верификация методики определения параметров компактной модели GaAs гетеропереходных биполярных транзисторов = Verification of a methodology for determining the parameters of a compact model for GaAs heterojunction bipolar transistors / П. Э. Новиков, П. С. Кратович, К. В. Корсак, И. Ю. Ловшенко // Компьютерное проектирование в электронике = Electronic Design Automation : cборник трудов Международной научно-практической конференции, Минск, 28 ноября 2024 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. Р. Стемпицкий [и др.]. – Минск, 2024. – С. 189–191.
Abstract:	Разработана методика определения параметров (экстракции) модели Mextram level 504 для гетеропереходных биполярных транзисторов (ГБТ) на основе GaAs. Экстрагированные параметры обеспечили высокую точность моделирования вольт-амперных характеристик, что подтверждает эффективность методики. Моделирование выполнено без использования специальных тестовых структур.
Alternative abstract:	A parameter extraction methodology for Mextram level 504 models of GaAs heterojunction bipolar transistors has been designed. The extracted parameters yielded high-accuracy simulation of current-voltage characteristics, which shows the methodology's effectiveness. Simulations were performed without the use of special test structures.
URI:	https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/58815
Appears in Collections:	Компьютерное проектирование в электронике (2024)

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Novikov_Verifikaciya.pdf		229.83 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar