Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/59740
Title: Построение управляемых вероятностных тестов с малым числом тестовых наборов
Other Titles: Constructing controlled random tests with a small number of test patterns
Authors: Ярмолик, В. Н.
Петровская, В. В.
Шевченко, Н. А.
Keywords: доклады БГУИР;исчерпывающие тесты;псевдоисчерпывающие тесты;расстояние Хэмминга
Issue Date: 2025
Publisher: БГУИР
Citation: Ярмолик. В. Н. Построение управляемых вероятностных тестов с малым числом тестовых наборов = Constructing controlled random tests with a small number of test patterns / В. Н. Ярмолик, В. В. Петровская, Н. А. Шевченко // Доклады БГУИР. – 2025. – Т. 23, № 2. – С. 92–100.
Abstract: Рассмотрены вопросы тестирования вычислительных систем и их составных компонентов. Выделен и исследован класс управляемых вероятностных тестов с малым числом тестовых наборов. Представлен метод построения управляемых вероятностных тестов с заданным расстоянием Хэмминга, основой которого является одномерное масштабирование шаблонов, представляющих собой тесты малой разрядности. Предложено применение исчерпывающих и псевдоисчерпывающих тестов в качестве шаблонов для получения управляемых вероятностных тестов. Исследованы свойства формируемых тестов и подходы по их использованию в качестве альтернативы вероятностным тестам. Эффективность метода построения управляемых вероятностных тестов экспериментально проанализирована и подтверждена для случая тестирования запоминающих устройств на наличие в них сложных кодочувствительных неисправностей.
Alternative abstract: he article considers the issues of testing computing systems and their components. A class of controlled probabilistic tests with a small number of tests patterns is identified and studied. A method for constructing controlled probabilistic tests with a given Hamming distance is presented, the basis of which is one-dimensional scaling of templates representing tests of small bit depth. It is proposed to use exhaustive and pseudo-exhaustive tests as templates for obtaining controlled probabilistic tests. The properties of the generated tests and approaches to their use as an alternative to probabilistic tests are studied. The efficiency of the method for constructing controlled probabilistic tests is experimentally analyzed and confirmed for the case of testing memory devices for the presence of complex code-sensitive faults.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/59740
DOI: http://dx.doi.org/10.35596/1729-7648-2025-23-2-92-100
Appears in Collections:Том 23, № 2

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
YArmolik_Postroenie.pdf376.76 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.