https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6070| Title: | Закономерности деградации функциональных параметров изделий электронной техники |
| Authors: | Шнейдеров, Е. Н. |
| Keywords: | материалы конференций;закономерности деградации;биполярные транзисторы |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Шнейдеров, Е. Н. Закономерности деградации функциональных параметров изделий электронной техники / Е. Н. Шнейдеров // Технические средства защиты информации: Тезисы докладов XI Белорусско-российской научно-технической конференции, 5 – 6 июня 2013 г., Минск. - Минск: БГУИР, 2013. - С. 86. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6070 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2013 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Shneyderov_Zakonomernosti.PDF | 321.69 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.