| Title: | Программно-аппаратное средство микропрограммного управления тестированием памяти |
| Authors: | Головин, Е. С. |
| Keywords: | материалы конференций;система на кристалле;SoC;самотестирование памяти;тестирование памяти;микропрограммное управление |
| Issue Date: | 2026 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Головин, Е. С. Программно-аппаратное средство микропрограммного управления тестированием памяти / Е. С. Головин // Компьютерные системы и сети : сборник материалов 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 13–17 апреля 2026 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2026. – С. 85–86. |
| Abstract: | Тестирование – это ключевой этап в любой разработке Систем на Кристалле (СнК). Особенно важным делает этот этап то, что в аппаратных средствах отсутствует возможность динамического реконфигурирования, потому каждая ошибка, совершенная проектировщиками, может привести к непригодности целой партии чипов. Однако на сегодняшний день тестирование СнК производится и после того, как устройство передаётся конечному потребителю. Достигается это за счёт различных средств встроенного самотестирования, которые проверяют ключевые для работы блоки на исправность. В данной работе представлено устройство встроенного самотестирования памяти с микропрограммным управлением, которое поддерживает режимы разрушающего и неразрушающего тестирования памяти. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64020 |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2026)
|
