| Title: | Методы решения обратной фотометрической задачи для нахождения показателя преломления тонкопленочных структур |
| Authors: | Приц, Е. В. |
| Keywords: | материалы конференций;тонкопленочные структуры;фотометрия;оптоэлектроника |
| Issue Date: | 2026 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Приц, Е. В. Методы решения обратной фотометрической задачи для нахождения показателя преломления тонкопленочных структур / Е. В. Приц // Радиотехника и электроника : сборник материалов 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 15–16 апреля 2026 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2026. – С. 247–248. |
| Abstract: | Работа посвящена обзору и анализу методов решения обратной фотометрической задачи, применяемых для высокоточного
определения действительной и мнимой части комплексного показателя преломления (оптических параметров) и толщины
тонкопленочных покрытий. Рассмотрены аналитические подходы на основе интерференционных экстремумов и современные численные оптимизационные алгоритмы, использующие спектры пропускания и отражения. Показано, что использование гибридных алгоритмов с применением дисперсионных моделей позволяет минимизировать погрешность расчетов. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64304 |
| Appears in Collections: | Радиотехника и электроника : материалы 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2026)
|
