Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64745
Title: Окно в наномир
Other Titles: The window to the nanomir
Authors: Ляшко, М. С.
Гурина, Т. Д.
Keywords: материалы конференций;наноматериалы;методы получения;методы диагностики;методы визуализации;субнанометровые разрешения;зондирующие пучоки
Issue Date: 2026
Publisher: БГУИР
Citation: Ляшко, М. С. Окно в наномир = The window to the nanomir / М. С. Ляшко, Т. Д. Гурина // Электронные системы и технологии : сборник материалов 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 13–17 апреля 2026 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: П. В. Камлач [и др.]. – Минск, 2026. – С. 397–401.
Abstract: Рассматриваются виды микроскопии высокого разрешения, такие как сканирующая электронная, сканирующая туннельная и атомно-силовая, и исследования, в которых они сыграли решающую роль. Анализируются перспективы их применения при исследовании наноматериалов.
Alternative abstract: This article discusses types of microscopy such as scanning electron microscopy, scanning tunneling microscopy, and atomic force microscopy, and the studies in which they have played a crucial role. The prospects of using new microscopy methods in the field of nanomaterial research are analyzed.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64745
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 62-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2026)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Lyashko_Okno.pdf862.44 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.