Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/65763
Title: Анализ закономерностей формирования пленочных дендритов меди методом электрокристаллизации
Other Titles: Analysis of the regularities of the formation of copper film dendrites by the electrocrystallization method
Authors: Плясункова, А. А.
Шматок, Е. В.
Врублевский, И. А.
Keywords: публикации ученых;дендриты меди;электрокристаллизация;морфология;дендритный рост;электроосаждение;металлические покрытия;тонкие пленки
Issue Date: 2026
Publisher: Гомельский государственный технический университет имени П. О. Сухого
Citation: Плясункова, А. А. Анализ закономерностей формирования пленочных дендритов меди методом электрокристаллизации = Analysis of the regularities of the formation of copper film dendrites by the electrocrystallization method / А. А. Плясункова, Е. В. Шматок, И. А. Врублевский // ERA – Современная наука: электроника, робототехника, автоматизация : материалы II Международной научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, Гомель, 30–31 октября 2025 г. / Гомельский государственный технический университет имени П. О. Сухого ; редкол.: А. А. Бойко [и др.]. – Гомель : ГГТУ им. П. О. Сухого, 2026. – С. 274–276.
Abstract: Представлены результаты анализа основных закономерностей формирования пленочных дендритных структур меди методом электрокристаллизации. Показано, что дендритный рост обусловлен совместным действием диффузионных ограничений, приводящих к неустойчивости плоского фронта роста и ускоренному осаждению на выступах, и кристаллографической анизотропии, направляющей рост ветвей вдоль осей <110>. Данные анализа свидетельствуют, что характерный угол ветвления ф = (55 ± 6)°. Полученные результаты важны для управляемого синтеза медных наноструктур с развитой поверхностью для применения в электрохимических устройствах хранения энергии.
Alternative abstract: This work presents an analysis of the formation mechanisms of thin-film copper dendrites obtained by electrocrystallization. It is shown that dendritic growth is caused by the combined action of diffusion limitations, leading to the instability of the flat growth front and accelerated deposition on protrusions, and crystallographic anisotropy, which directs branch growth along the <110> axes. The characteristic branching angle of ф = (55 ± 6)° was measured. The obtained results are important for the targeted synthesis of copper nanostructures with a developed surface for application in electrochemical energy storage devices.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/65763
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Plyasunkova_Analiz.pdf1.08 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.