| Title: | Визуальный контроль микросхемы с использованием зекрал |
| Authors: | Губчик, И. Н. |
| Keywords: | материалы конференций;калибровка;микросхемы |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Губчик, И. Н. Визуальный контроль микросхемы с использованием зекрал / И. Н. Губчик // Компьютерные системы и сети : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 6–10 мая 2013 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. А. Прытков [и др.]. – Минск, 2013. – С. 15–16. |
| Abstract: | В микроэлетронной промышленности в качестве соединителей между отдельной микросхемой и платой выступают металлические контакты. Для снижения производственных затрат процесс изготовления микросхем автоматизирован и обязан обеспечивать заданную точность изготовления контактов. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/7603 |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2013)
|
