https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/8534| Title: | Методика оценки надежности микросхем памяти после воздействия электростатических разрядов |
| Authors: | Шинтар, Андрей Владимирович |
| Keywords: | авторефераты диссертаций;надежность;электростатические разряды;микросхемы памяти;электричество |
| Issue Date: | 2016 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Шинтар, А. В. Методика оценки надежности микросхем памяти после воздействия электростатических разрядов : автореф. дисс. ... магистра техники и технологий : 1-39 81 01 / А. В. Шинтар ; науч. рук. Г. А. Пискун. - Минск : БГУИР, 2016. - 16 с. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/8534 |
| Appears in Collections: | 1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Автореферат.pdf | 974.07 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.