https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9241| Title: | Исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техники по результатам ускоренных испытаний |
| Authors: | Янцевич, Ю. В. |
| Keywords: | материалы конференций;электронная техника;ускоренные испытания;деградация функциональных параметров |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Янцевич, Ю. В. Исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техники по результатам ускоренных испытаний / Ю. В. Янцевич // Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных средств : сборник материалов 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 6–10 мая 2013 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Боднарь И. В. [и др.]. – Минск, 2013. – С. 254–255. |
| Abstract: | Для биполярных транзисторов (БТ) серийного производства с отработанной технологией были поставлены задачи по исследованию закономерностей дрейфа функциональных параметров при длительной наработке транзисторов. С целью сокращения продолжительности испытаний на длительную наработку принято решение о проведении ускоренных испытаний, выполняемых по типовым методикам. Важным фактором в оценке работоспособности приборов является прогнозирование надежности. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9241 |
| Appears in Collections: | Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2013) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Исследование деградации.PDF | 312.34 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.