Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/928
Title: Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур
Authors: Максименко, В. А.
Короновский, А. А.
Москаленко, О. И.
Храмов, А. Е.
Алексеев, К. Н.
Баланов, А. Г.
Keywords: материалы конференций;полупроводниковая сверхрешетка;пространственно-временная неустойчивость;домены
Issue Date: 2014
Publisher: БГУИР
Citation: Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур / В. А. Максименко, А. А. Короновский, О. И. Москаленко [и др.] // Международная научно-техническая конференция, приуроченная к 50-летию МРТИ-БГУИР : материалы конференции, Минск, 18–19 марта 2014 г. : в 2 ч. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: А. Н. Осипов [и др.]. – Минск, 2014. – Ч. 1. – C. 52–53.
Abstract: В работе предложен метод анализа устойчивости стационарного состояния сильносвязанной полупроводниковой сверхрешетки, позволяющий рассчитывать значение напряжения, необходимого для возникновения неустойчивости и находить частоту возникающих колебаний.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/928
ISBN: 978-985-543-037-8
Appears in Collections:Секция «Радиотехника и электроника»

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
метод анализа.pdf375.61 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.