Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9292
Title: Научные основы прогнозирования параметрической надёжности выборок изделий электронной техники
Authors: Шнейдеров, Е. Н.
Keywords: материалы конференций;электронная техника;выборка изделий;параметрическая надежность
Issue Date: 2013
Publisher: БГУИР
Citation: Шнейдеров, Е. Н. Научные основы прогнозирования параметрической надёжности выборок изделий электронной техники / Е. Н. Шнейдеров // Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных средств : сборник материалов 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 6–10 мая 2013 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Боднарь И. В. [и др.]. – Минск, 2013. – С. 220.
Abstract: Рассматриваются основы прогнозирования постепенных отказов и, следовательно, параметрической надёжности изделий электронной техники по статистическим данным рассматриваемого функционального параметра в начальный момент времени.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9292
Appears in Collections:Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2013)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Научные основы.PDF344.85 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.