Skip navigation
DSpace logo
  1. Репозиторий БГУИР

Browsing by Subject изделия электронной техники

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 20 of 30  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2024Алгоритм проверки работоспособности газоразрядных лампКупцов, С. А.
2006Достоверность прогнозирования функциональных параметров полупроводниковых приборов методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.
2013Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техникиБоровиков, С. М.
2011Использование распределения Вейбулла для прогнозирования параметрической надежности электронной техникиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2024Исследование эффективности моделей прогнозирования класса надёжности изделий электронной техникиБоровиков, С. М.; Казючиц, В. О.; Русак, И. В.
2016Математическая модель деградации функционального параметра изделий электронной техникиДик, С. К.; Цырельчук, И. Н.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.
2016Математические модели деградации функциональных параметров изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Будник, А. В.
2013Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.
2014Методика прогнозирования параметрической надежности изделий электронной техники по модели деградации функционального параметраБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2015Модели на основе распределения Вейбулла-Гнеденко для описания деградации функциональных параметров изделий электронной техникиБоровиков, С. М.; Borovikov, S. M.
2024Модели прогнозирования класса работоспособности изделий электронной техники на основе преобразования их информативных параметров в дискретный кодБоровиков, С. М.
2017Нетермическая активация вакуумно-плазменных технологических процессов производства изделий электронной техникиЮник, А. Д.
2014О замене предыстории параметра изделия электронной техники при его прогнозировании методом экстраполяцииБурак, И. А.; Гришель, Р. П.; Матюшков, В. Е.
2010Получение математических моделей функциональных параметров изделий электронной техники в задачах прогнозирования надёжностиШнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Бруй, А. А.
2014Получение практических навыков по методам прогнозирования надёжности изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Боровиков, С. М.; Гришель, Р. П.
2025Прогнозирование класса надёжности изделий электронной техники методом пороговой логикиКоляда, Е. В.
2014Прогнозирование надежности выборок ИЭТ по числовым характеристикам функционального параметра в начальный момент времениБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Гришель, Р. П.
2006Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логикиБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Цырельчук, И. Н.
2008Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе математической модели деградации функционального параметраБоровиков, С. М.; Шалак, А. В.; Бересневич, А. И.; Емельянов, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.
2024Прогнозирование надежности изделий электронной техники по постепенным отказам методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.
Showing results 1 to 20 of 30  next >