Skip navigation

Browsing by Subject ионизирующее излучение

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 15 of 15
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Влияние малых доз ионизирующего излучения на онкозаболеваемостьСемченко, А. С.
2025Влияние положения болюса на величину дозы онизирующего излучения при моделировании облучения на линейном ускорителеЧиркова, И. Н.; Тумилович, М. В.
2023Влияние радиоактивного излучения на окружающую среду и организм человекаГрузинская, Д. Г.; Жинько, Д. О.
2019Детектор гамма-фотонного излученияЖелковская, Д. А.; Шайпак, А. А.
2024Дозиметрический мониторинг при авиаперелетахХаджинова, К. А.
2023Композиционные материалы системы эпоксидная смола–W для радиационной защиты от гамма-излученияРоткович, А. А.; Тишкевич, Д. И.; Герман, С. А.; Бондарук, А. А.; Леончик, С. В.; Дашкевич, Е. С.; Федосюк, В. М.; Труханов, А. В.
2015Методика воздействия ионизирующего излучения на опухолевые тканиПарчайкина, А. В.
2025Методы и средства индивидуального распределения и контроля доз ионизирующего излучения для брахитерапииКозловский, Д. И.
2020Методы построения схемотехнических решений для обработки токовых импульсов детекторов частиц и ионизирующих излученийКунц, А. В.
2020Моделирование воздействия тяжелой заряженной частицы на электрические характеристики приборной структуры n-моп-транзистораЛовшенко, И. Ю.; Стемпицкий, В. Р.; Шандарович, В. Т.
2025Программно-аппаратный модуль для мониторинга радиационной обстановкиРусецкий, Л. С.
2007Схемотехника серии быстродействующих КМОП логических ИС, устойчивых к специальным внешним воздействиямЕмельянов, В. А.; Калошкин, Э. П.; Силин, А. В.; Шведов, С. В.
2018Устойчивость анодного оксида алюминия к ионизирующим излучениямБиран, С. А.; Короткевич, Д. А.; Короткевич, А. В.; Плешкин, В. А.
2021Учет воздействия протонов при анализе электрических характеристик арсенид-галлиевого полевого транзистораЛовшенко, И. Ю.; Стемпицкий, В. Р.; Lovshenko, I. Y.; Stempitsky, V. R.
2019Физические причины временных отказов микропроцессорных устройствМайоров, Л. В.