Skip navigation

Browsing by Subject постепенные отказы

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 10 of 10
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Reliability Prediction of Electroniс Devices, Considering the Gradual FailuresBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.
2021Выбор имитационных факторов для моделирования постепенных отказов биполярных транзисторов большой мощностиКалита, Е. В.; Бересневич, А. И.; Боровиков, С. М.; Borovikov, S. M.
2007Выбор параметров электрического режима в качестве имитационных факторов при прогнозировании постепенных отказов биполярных транзисторовБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Будник, А. В.
2005Использование температуры в качестве имитационного фактора при прогнозировании постепенных отказов полупроводниковых приборовБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.
2025Компьютерная программа для прогнозирования надёжности по постепенным отказам биполярных транзисторов методом имитационных воздействийГовса, М. В.
2014Методика прогнозирования параметрической надежности изделий электронной техники по модели деградации функционального параметраБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2014Моделирование предыстории при прогнозировании постепенных отказов изделий электронной техники методом экстраполяции параметраБурак, И. А.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В.
2014Прогнозирование надежности выборок ИЭТ по числовым характеристикам функционального параметра в начальный момент времениБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Гришель, Р. П.
2014Прогнозирование постепенных отказов ИЭТ по реакции функционального параметра на имитационное воздействиеБоровиков, С. М.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Троян, Ф. Д.
2022Ускоренные испытания биполярных транзисторов большой мощности на длительную наработкуКалита, Е. В.; Казючиц, В. О.