| Title: | Компьютерная программа для прогнозирования надёжности по постепенным отказам биполярных транзисторов методом имитационных воздействий |
| Other Titles: | Computer program for predicting gradual failures of bipolar transistors by the method of simulation effects |
| Authors: | Говса, М. В. |
| Keywords: | материалы конференций;биполярные транзисторы;постепенные отказы;имитационные воздействия |
| Issue Date: | 2025 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Говса, М. В. Компьютерная программа для прогнозирования надёжности по постепенным отказам биполярных транзисторов методом имитационных воздействий = Computer program for predicting gradual failures of bipolar transistors by the method of simulation effects / М. В. Говса // Электронные системы и технологии : сборник материалов 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 21–25 апреля 2025 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2025. – С. 149–151. |
| Abstract: | Разработана компьютерная программа, предназначенная для получения по
результатам обучающего эксперимента имитационной модели наработки биполярных
транзисторов. Модель представляет функцию пересчёта заданной (интересующей)
наработки на значение имитационного воздействия, в качестве которого рассматривается
ток коллектора. Результат измерения электрического функционального параметра
транзистора (конкретного экземпляра) при установлении тока коллектора, равного
рассчитанному значению по имитационной модели, рассматривается в качестве прогноза
электрического параметра для заданной наработки, что позволяет принять решение о
возможном постепенном отказе экземпляра из числа, не участвовавших в обучающем
эксперименте. Обеспечена возможность запуска компьютерной программы, написанной
на языке программирования JavaScript, как обычной прикладной программы с
использованием операционной системы Windows |
| Alternative abstract: | A computer program has been developed to obtain a simulation model of bipolar
transistor operating time based on the results of a training experiment. The model represents a function
for recalculating a given operating time by the value of a simulation effect, which is considered to be
the collector current. The result of measuring the electrical functional parameter of a transistor when
establishing a collector current equal to the value calculated by the simulation model is considered as
a forecast of the electrical parameter for a given operating time, which allows making a decision on a
possible gradual failure of an instance that did not participate in the training experiment. The ability
to run a computer program written in the JavaScript programming language as a regular application
program using the Windows operating system is provided. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/59990 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 61-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2025)
|
