Skip navigation

Browsing by Subject электростатические разряды

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 14 of 14
Issue DateTitleAuthor(s)
2012Контроль функционирования микроконтроллеров при воздействии электростатического разрядаПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.
2016Методика оценки надежности микросхем памяти после воздействия электростатических разрядовШинтар, Андрей Владимирович
2013Методики контроля функциональных и эксплуатационных характеристик микроконтроллеров после воздействия электростатических разрядовПискун, Г. А.
2018Модели прогнозирования надежности интегральных схем с учетом воздействия электростатического разрядаАлексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Лисовский, А. А.; Константинов, А. А.
2017Моделирование протекания тока во внутреннем выводе микросхемы под действием электростатических разрядов в среде ANSYS WorkbenchКалиновский, Д. В.; Али, А. Ш.
2014Моделирование распределения температуры в токоведущих элементах интегральных микросхем в результате воздействия электростатических разрядовПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Ланин, В. Л.; Левин, В. Г.
2021Обзор методов компьютерного проектирования силовых интегральных микросхем в условиях воздействия электростатического разрядаАлексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Сыс, А. Д.
2016Оценка целостности массива данных микроконтроллера после воздействия электростатических разрядовАмельчиц, А. Г.
2013Планирование эксперимента по выявлению изменений в программном обеспечении микроконтроллеров с flash-памятью при воздействии электростатического разрядаПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.
2025Применение Zero Trust подхода для мобильных Android-устройств в корпоративной средеАгапова, В. О.
2018Распределение температуры в токоведущих элементах печатной платы при воздействии электромагнитного импульса длительностью до 2-х наносекундПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Денисов, А. А.
2013Способ испытания микроконтроллеров на устойчивость к воздействию электростатических разрядовПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Брылева, О. А.
2017Способы защиты радиоэлектронных устройств от воздействия электростатических разрядов: обзор современного состояния и перспективы развития в приборостроенииПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Житников, А. Л.
2017Техническая диагностика полупроводниковых приборов на устойчивость к воздействию электростатических разрядовДегалевич, Д. А.