Skip navigation

Browsing by Subject электростатический разряд

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 20 of 21  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2014Анализ вариантов защиты двунаправленного буфера со смешанным питанием от воздействия электростатического разрядаБрылева, О. А.
2015Внутренние элементы защиты интегральных схем от воздействия электростатических разрядовБыковский, С. И.; Шинтар, А. В.; Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.
2018Воздействие разрядов статического электричества на полупроводниковые структуры и интегральные схемыАлексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Лисовский, А. А.
2015Зависимость интенсивности протекания электростатического разряда бесконтактного типа от параметров средыАлексеев, В. Ф.; Варфоломеев, В. В.; Пискун, Г. А.
2018Защита микросхем от электростатических разрядов (ESD)Почтальонов, З. С.
2021Испытание электронных средств по моделям воздействия электростатического разрядаАлексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Панасюк, Н. А.
2012Исследование воздействия ЭСР по МТЧБрылева, О. А.; Пискун, Г. А.
2015Исследование и классификация типов разряда статического электричестваШинтар, А. В.; Савостеев, Ю. И.; Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.
2015Исследование протекания процессов электростатического разряда в газовой среде на основе компьютерной моделиАлексеев, В. Ф.; Варфоломеев, В. В.; Пискун, Г. А.
2011Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядамАлексеев, В. Ф.; Силков, Н. И.; Пискун, Г. А.; Пикулик, А. Н.
2018Методика расчета распределения температуры в токоведущих элементах печатной платы при воздействии электромагнитного импульса до 2-х наносекунд в Comsol MyltiphysicsПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Денисов, А. А.
2019Механизмы повреждений полупроводниковых структур, вызванные воздействием ЭМИКонстантинов, А. А.; Панасюк, Н. А.; Яненко, Н. В.
2013Моделирование воздействия электростатического разряда на полупроводниковые приборы радиоэлектронных средств: отчет о НИР (заключ.)Пискун, Г. А.
2016Моделирование воздействия электростатического разряда на электронные средстваВарфоломеев, В. В.
2013Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядовПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Брылева, О. А.
2018Распределение температуры в токоведущих элементах диода Шоттки при воздействии электромагнитного импульса длительностью до 2-х наносекундПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Денисов, А. А.
2018Распределение температуры в токоведущих элементах интегральных схем при воздействии электромагнитного импульса длительностью до 2-х наносекундПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Денисов, А. А.
2016Совершенствование алгоритма испытаний микропроцессорной техники на устойчивость к воздействию разрядов статического электричестваПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Пикулик, А. Н.; Врабий, Э. М.
2015Специфика использования методов неразрушающего диагностического контроля полупроводниковых изделий после воздействия электростатических разрядовДегалевич, Д. А.; Врабий, Э. М.; Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.
2016Устройство для имитации электростатических разрядов при исследовании помехоустойчивости радиоэлектронной техникиДубровский, В. В.; Гапанович, О. Ю.