Репозиторий БГУИР: Browsing DSpace

Browsing by Author Alexeev, V. F.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
or enter first few letters:

Showing results 3 to 11 of 11 < previous

Issue Date	Title	Author(s)
2022	Modeling a two-level risk reduction of an enterprise in the formation of staff competence	Alexeev, V. F.; Matyushkov, V. E.; Pisarchik, A. Yu.
2006	Modeling of nonstationary heating of semiconductor structures under HEMP actions with short pulse duration	Alexeev, V. F.; Zhuravliov, V. I.
2022	Quality and risk management at real economy enterprises	Alexeev, V. F.; Matyushkov, V. E.; Pisarchik, A. Yu.
2018	The Impact of ESD on Microcontrollers	Piskun, G. A.; Alexeev, V. F.; Avakow, S. M.; Matyushkov, V. E.; Titko, D. S.
2003	Thermal conductivity influence on failures of semiconductor IСs under powerful EMP action	Zhuravliov, V. I.; Alexeev, V. F.
2004	Анализ влияния климатических факторов на работоспособность интегральных схем, работающих в составе РЭС	Алексеев, В. Ф.; Ковальков, Д. О.; Эль-Хадад, В. М.; Alexeev, V. F.
2012	Влияние разрядов статического электричества на программное обеспечение, инсталлированное во встроенную flash-память микроконтроллеров	Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Piskun, G. A.; Alexeev, V. F.
2004	Использование Discovery Signal Vision для оценки и анализа электрической топологии печатных плат в процессе проектирования	Алексеев, В. Ф.; Скворцов, А. О.; Alexeev, V. F.
2013	Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов	Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Брылева, О. А.; Piskun, G. A.; Alexeev, V. F.; Bryleva, V. A.

Showing results 3 to 11 of 11 < previous