https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1406| Title: | Эффективный способ выявления ненадежных КМОП схем |
| Other Titles: | Effective method of unreliable CMOS circuts identification |
| Authors: | Белоус, А. И. Прибыльский, А. В. |
| Keywords: | доклады БГУИР;метод отбраковки;интегральные схемы;пробой диэлектрика |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Белоус, А. И. Эффективный способ выявления ненадежных КМОП схем = Effective method of unreliable CMOS circuts identification / А. И. Белоус, А. В. Прибыльский // Доклады БГУИР. – 2013. – № 1 (71). – С. 94–96. |
| Abstract: | С увеличением степени интеграции интегральных схем, уменьшением геометрических размеров интегральных структур выявление ненадежных схем по-прежнему остается актуальной задачей. Наиболее часто используемый в производстве метод отбраковки потенциально ненадежных схем – имитация эксплуатационных режимов на этапе испытаний. Однако сложность и длительность реализации указанного метода делает его практически не пригодным в условиях массового производства интегральных схем. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1406 |
| Appears in Collections: | №1 (71) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Belous_Effektivniy.PDF | 425.53 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.