https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1406
Title: | Эффективный способ выявления ненадежных КМОП схем |
Other Titles: | Effective method of unreliable CMOS circuts identification |
Authors: | Белоус, А. И. Прибыльский, А. В. |
Keywords: | доклады БГУИР;дефект;отказ;надежность;пробой диэлектрика |
Issue Date: | 2013 |
Publisher: | БГУИР |
Citation: | Белоус, А. И. Эффективный способ выявления ненадежных КМОП схем / А. И. Белоус, А. В. Прибыльский // Доклады БГУИР. - 2013. - № 1 (71). - С. 94 - 96. |
Abstract: | С увеличением степени интеграции интегральных схем, уменьшением геометрических размеров интегральных структур выявление ненадежных схем по-прежнему остается актуальной задачей. Наиболее часто используемый в производстве метод отбраковки потенциально ненадежных схем – имитация эксплуатационных режимов на этапе испытаний. Однако сложность и длительность реализации указанного метода делает его практически не пригодным в условиях массового производства интегральных схем. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1406 |
Appears in Collections: | №1 (71) |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Belous_Effektivniy.PDF | 425.53 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.