Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34179
Название: Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров
Авторы: Шнейдеров, Е. Н.
Ключевые слова: авторефераты диссертаций;мощные полупроводниковые приборы;постепенные (деградационные) отказы;модель деградации
Дата публикации: 2018
Издательство: БГУИР
Описание: Шнейдеров, Е. Н. Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров : автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Е. Н. Шнейдеров ; науч. рук. С. М. Боровиков. - Минск : БГУИР, 2018. - 25 с.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34179
Располагается в коллекциях:05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
avtoreferat_Shneiderov.pdf856.19 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.