Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35364
Title: Использование многократных тестов с изменяемым начальным состояниям для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ
Authors: Леванцевич, В. А.
Keywords: материалы конференций;тестирование ОЗУ;псевдо-исчерпывающие тесты
Issue Date: 2019
Publisher: БГУИР
Citation: Леванцевич, В. А. Использование многократных тестов с изменяемым начальным состояниям для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ / В. А. Леванцевич // Компьютерные системы и сети: 55-я юбилейная научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 117–119.
Abstract: Исследуется возможность использования многократных вероятностных тестов с изменяемым начальным состоянием ячеек памяти для псевдо-исчерпывающего тестирования ОЗУ. Определено среднее число итераций многократного теста для исчерпывающего тестирования заданного количества ячеек памяти.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35364
Appears in Collections:Компьютерные системы и сети : материалы 55-й юбилейной научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Levantsevich_Ispolzovaniye.pdf451.78 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.