https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35364| Title: | Использование многократных тестов с изменяемым начальным состояниям для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ |
| Authors: | Леванцевич, В. А. |
| Keywords: | материалы конференций;тестирование ОЗУ;псевдо-исчерпывающие тесты |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Леванцевич, В. А. Использование многократных тестов с изменяемым начальным состояниям для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ / В. А. Леванцевич // Компьютерные системы и сети: 55-я юбилейная научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 117 – 119. |
| Abstract: | Исследуется возможность использования многократных вероятностных тестов с изменяемым начальным состоянием ячеек памяти для псевдо-исчерпывающего тестирования ОЗУ. Определено среднее число итераций многократного теста для исчерпывающего тестирования заданного количества ячеек памяти. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35364 |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 55-й юбилейной научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Levantsevich_Ispolzovaniye.pdf | 451.78 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.