https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44240| Title: | Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей |
| Authors: | Деменковец, Д. В. |
| Keywords: | материалы конференций;тестирование запоминающих устройств;двойные адресные последовательности |
| Issue Date: | 2021 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Деменковец, Д. В. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей / Д. В. Деменковец // Компьютерные системы и сети: 57-я научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 19-23 апреля 2021 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2021. – С. 37–38. |
| Abstract: | Анализируется эффективность применения неразрушающих тестов для тестирования запоминающих устройств (ЗУ). Синтезируется базовый элемент неразрушающих тестов с применением двойных адресных последовательностей. Приводится неразрушающий тест ЗУ March_2А_1 для которого оценивается его временная сложность и эффективность обнаружения неисправностей ЗУ. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/44240 |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник тезисов докладов (2021) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Demenkovets_Nerazrushayushcheye.pdf | 453.37 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.